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論理とテスト

樹下行三, 浅田邦博, 唐津修 [著]. -- 岩波書店, 1985. -- (岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達 [ほか] 編 ; 4 . VLSIの設計 ; 2). <TW00003483>
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論理とテスト

樹下行三, 浅田邦博, 唐津修 [著]. -- 岩波書店, 1985. -- (岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達 [ほか] 編 ; 4 . VLSIの設計 ; 2). <TW00003483>
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所蔵一覧 1件～2件（全2件）

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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 本社 本社図書館1F 621.38||K||17038 10021337 0件
0002 筑波 筑波図書室１階 09C||NASDA||000037200 000037200 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 本社
配置場所 本社図書館1F
請求記号 621.38||K||17038
資料ID 10021337
状態
返却予定日
予約 0件
No. 0002
巻号
所蔵館 筑波
配置場所 筑波図書室１階
請求記号 09C||NASDA||000037200
資料ID 000037200
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 論理とテスト / 樹下行三, 浅田邦博, 唐津修 [著]
ロンリ ト テスト
出版・頒布事項 東京 : 岩波書店 , 1985.5
形態事項 x, 313p ; 22cm
巻号情報
ISBN 4000101846
書誌構造リンク 岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達 [ほか] 編||イワナミ コウザ マイクロ エレクトロニクス <TW00000049> 4 . VLSIの設計||VLSI ノ セッケイ ; 2//bb
注記 参考書: p303-305
学情ID BN00059257
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 樹下, 行三(1936-)||キノシタ, コウゾウ <AU00008489>
著者標目リンク 浅田, 邦博 (1952-)||アサダ, クニヒロ <AU00008490>
著者標目リンク 唐津, 修 (1947-)||カラツ, オサム <AU00008491>
分類標目 電子工学 NDC8:549
分類標目 電子工学 NDC8:549.08
分類標目 NDC7:549.92
分類標目 科学技術 NDLC:ND351
分類標目 科学技術 NDLC:ND386
件名標目等 集積回路||シュウセキカイロ
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