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テストは何のためにあるのか : 項目反応理論から入試制度を考える

光永悠彦編著 ; 西田亜希子著. -- ナカニシヤ出版, 2022. <BB00289980>
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光永悠彦編著 ; 西田亜希子著. -- ナカニシヤ出版, 2022. <BB00289980>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 鳴門教育大学附属図書館 ２階図書 376.87||Mi66 71031888 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 鳴門教育大学附属図書館
配置場所 ２階図書
請求記号 376.87||Mi66
資料ID 71031888
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 テストは何のためにあるのか : 項目反応理論から入試制度を考える / 光永悠彦編著 ; 西田亜希子著
テスト ワ ナンノ タメ ニ アル ノカ : コウモク ハンノウ リロン カラ ニュウシ セイド オ カンガエル
出版・頒布事項 京都 : ナカニシヤ出版 , 2022.9
形態事項 ix, 239p : 挿図 ; 26cm
巻号情報
ISBN 9784779516832
その他の標題 裏表紙タイトル:Item response theory
その他の標題 その他のタイトル:テストは何を測るのか : 項目反応理論の考え方
テスト ワ ナニ オ ハカル ノカ : コウモク ハンノウ リロン ノ カンガエカタ
その他の標題 標題紙タイトル:test
注記 「テストは何を測るのか : 項目反応理論の考え方」(2017年刊)の姉妹編
注記 参考文献: p233-237
注記 事項索引: p238
注記 人名索引: p.239
学情ID BC17143066
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 光永, 悠彦 (1979-)||ミツナガ, ハルヒコ <AU00202613>
著者標目リンク 西田, 亜希子 (1976-)||ニシダ, アキコ <AU00223652>
分類標目 教育学．教育思想 NDC9:371.7
分類標目 幼児・初等・中等教育 NDC9:376.8
分類標目 幼児・初等・中等教育 NDC10:376.87
件名標目等 教育測定||キョウイクソクテイ
件名標目等 試験 (教育)||シケン(キョウイク)
件名標目等 入学試験(大学)||ニュウガク シケン(ダイガク)
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